Revista de Odontologia da UNESP
https://revodontolunesp.com.br/article/588019af7f8c9d0a098b52a8
Revista de Odontologia da UNESP
Congress Abstract

Análise com MEV e AFM da variação da morfologia superficial da resina TPH (Dentsply) após técnicas diferentes de polimento

Bortoluci, C. D.; Marin, T. S.; Santos, A.D.

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Resumo

A microscopia eletrônica de Varredura (MEV) e a Microscopia de Força Atômica (AFM), são ferramentas muito poderosas quando se analisa superfície de materiais. O procedimento clínico de uma restauração dental com resina composta se finaliza com o acabamento e polimento da sua superfície, visando melhora a lisura (rugosidade) desta superfície. Com o uso das ferramentas MEV e AFM, podemos fazer uma avaliação muito precisa da variação da rugosidade destes materiais. Sendo assim a proposta deste trabalho foi verificar a rugosidade e a área de superfície da resina micro híbrida TPH (Dentsply) após o polimento com duas técnicas diferentes: Kit acabamento e polimento resina composta da KG Sorensen (Cotia-SP) e pontas abrasivas da TDV (Pomerode)-SC. Foram preparadas doze amostras, divididas em 2 grupos (n=5), sendo 2 de controle. Estas foram fotopolimerizadas de acordo com a orientação do fabricante, e permaneceram imersas por 24 h em agua deionizada, após este período passaram pelos processos de acabamento e polimento propostos. A análise dos resultados mostraram que estatisticamente (ANOVA‑Tukey) não existe diferença entre os valores obtidos neste estudo, mostrando que as duas técnicas promovem um polimento eficiente.

Palavras-chave

Microscopia, microscopia de força atômica, microscopia eletrônica de varredura.
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Rev. odontol. UNESP

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