Análise com MEV e AFM da variação da morfologia superficial da resina TPH (Dentsply) após técnicas diferentes de polimento
Bortoluci, C. D.; Marin, T. S.; Santos, A.D.
Rev. odontol. UNESP, vol.43, nEspecial, p.0, 2014
Resumo
A microscopia eletrônica de Varredura (MEV) e a Microscopia de Força Atômica (AFM), são ferramentas muito poderosas quando se analisa superfície de materiais. O procedimento clínico de uma restauração dental com resina composta se finaliza com o acabamento e polimento da sua superfície, visando melhora a lisura (rugosidade) desta superfície. Com o uso das ferramentas MEV e AFM, podemos fazer uma avaliação muito precisa da variação da rugosidade destes materiais. Sendo assim a proposta deste trabalho foi verificar a rugosidade e a área de superfície da resina micro híbrida TPH (Dentsply) após o polimento com duas técnicas diferentes: Kit acabamento e polimento resina composta da KG Sorensen (Cotia-SP) e pontas abrasivas da TDV (Pomerode)-SC. Foram preparadas doze amostras, divididas em 2 grupos (n=5), sendo 2 de controle. Estas foram fotopolimerizadas de acordo com a orientação do fabricante, e permaneceram imersas por 24 h em agua deionizada, após este período passaram pelos processos de acabamento e polimento propostos. A análise dos resultados mostraram que estatisticamente (ANOVA‑Tukey) não existe diferença entre os valores obtidos neste estudo, mostrando que as duas técnicas promovem um polimento eficiente.
Palavras-chave
Microscopia, microscopia de força atômica, microscopia eletrônica de varredura.